| ▋ 设备简介 |
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XPT8200是一款高分辨率水平CT系统，采用YXLON开放式射线管设计，缺陷检测能力可达0.5μm.，可实现3D及锥束CT等检测方式，适用于品质检测、三维测量及无损分析。配置高精度卡盘及卡爪，满足不同尺寸及材料样品的检测。 |
| ▋ 硬件参数 |
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X射线源 |
光管类型 |
开放式微焦点透射射线源 |
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光管电压 |
25 ~ 160KV |
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操作电流 |
10 ~ 1000 uA |
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最大管功率 |
64 W |
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最大靶功率 |
10 W |
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最小物距 |
250 um |
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微焦点尺寸 |
1 um |
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最小缺陷检测能力 |
<500 nm |
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平板探测器 |
探测器类型 |
非晶硅平板探测器(可选） |
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像素矩阵 |
1536×1536 |
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视场范围 |
154mm×154mm |
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分辨率 |
5Lp/mm |
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图像帧率（1×1) |
60fps |
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AD转换位数 |
16bits |
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3D/CT参数 |
CT扫描周期 |
10min |
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CT重构时间 |
60 s |
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设备参数 |
输入电源 |
220V 10A 50-60HZ |
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控制系统 |
DELL Precision T7920图形工作站 |
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外形尺寸 |
L2200mm×W1500mm×H2100mm |
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设备净重 |
约2950KG |
